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簡(jiǎn)要描述:KLA-Tencor Spectra-Shape 8660 光學(xué)計(jì)量?jī)x是一種先進(jìn)的半導(dǎo)體晶圓測(cè)試和計(jì)量設(shè)備,主要用于精確測(cè)量半導(dǎo)體晶圓的特征尺寸和形狀。該系統(tǒng)采用光學(xué)技術(shù),能夠?qū)χ睆竭_(dá)300毫米的晶圓進(jìn)行高精度的CD(Critical Dimension)測(cè)量和形狀測(cè)量。
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KLA-Tencor Spectra-Shape 8660 光學(xué)計(jì)量?jī)x
是一種先進(jìn)的半導(dǎo)體晶圓測(cè)試和計(jì)量設(shè)備,主要用于精確測(cè)量半導(dǎo)體晶圓的特征尺寸和形狀。該系統(tǒng)采用光學(xué)技術(shù),能夠?qū)χ睆竭_(dá)300毫米的晶圓進(jìn)行高精度的CD(Critical Dimension)測(cè)量和形狀測(cè)量。
Spectra-Shape 8660 設(shè)備具備多種高級(jí)功能,包括自動(dòng)非接觸式2D(高度)測(cè)量、非接觸式計(jì)量工具、缺陷審查、自動(dòng)聚焦、數(shù)據(jù)管理和靈活的測(cè)試協(xié)議開(kāi)發(fā)選項(xiàng)。此外,它還提供了一種可靠、可重復(fù)且經(jīng)濟(jì)高效的方法來(lái)確定晶圓的質(zhì)量。
該系統(tǒng)的用戶界面友好,操作簡(jiǎn)便,支持高分辨率VGA顯示,并且具有多探頭選擇和強(qiáng)大的內(nèi)部數(shù)據(jù)處理能力。其設(shè)計(jì)旨在滿足各種晶圓計(jì)量需求,提供出色的精度、重復(fù)性和吞吐量。
Spectra-Shape 8660 還可以用于監(jiān)控IC制造過(guò)程中關(guān)鍵結(jié)構(gòu)參數(shù),如金屬柵凹陷、高k凹陷、側(cè)壁角度、抗蝕層高度和硬掩模高度等。這種多功能性使其成為半導(dǎo)體制造中不ke或缺的工具。
總之,KLA-Tencor Spectra-Shape 8660 是一款頂級(jí)的晶圓測(cè)試和計(jì)量設(shè)備,適用于各種復(fù)雜的幾何特征的精確測(cè)量和監(jiān)控,廣泛應(yīng)用于現(xiàn)代集成電路制造中.
型號(hào): Spectra-Shape 8660
應(yīng)用領(lǐng)域: 半導(dǎo)體制造和計(jì)量
特點(diǎn): 高精度測(cè)量,適用于32nm及以下設(shè)計(jì)節(jié)點(diǎn)的IC器件
光學(xué)CD測(cè)量系統(tǒng)
形狀測(cè)量系統(tǒng)
OCD測(cè)量
wafer尺寸: 300mm
高分辨率成像
自動(dòng)化計(jì)量工具
精確分析半導(dǎo)體晶片結(jié)構(gòu)
多種高級(jí)功能支持
可重復(fù)性和高吞吐量
易于設(shè)置和操作的用戶界面
提供多種高級(jí)功能,如自動(dòng)非接觸式2D(高度)測(cè)量機(jī)、非接觸式計(jì)量工具等
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